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半導体製造が最先端の 3nm および 2nm プロセスに進むにつれて、高温耐性、耐食性、高純度、精度といった優れた特性を備えた PEEK は、ウェーハ製造、パッケージング、およびテストのプロセス全体を通じて重要な材料となっています。これにより、歩留まりが大幅に向上し、機器の寿命が延長され、チップ業界が技術的なボトルネックを克服できるようになります。
チップ製造プロセスは3nm、2nmに向けて進歩し続けており、半導体製造では清浄度、高温耐性、耐食性、寸法精度においてナノスケールの精度が要求されるため、従来の金属や標準的なエンジニアリングプラスチックでは、これらの厳しい条件を満たすにはもはや十分ではありません。 PEEK(ポリエーテルエーテルケトン)は、その優れた総合性能により、エレクトロニクスおよび半導体分野において欠かせない重要なエンジニアリング材料となっています。ウェーハの製造、パッケージング、テストの全プロセスにわたって広く使用されており、高度なプロセスにおける安定的、効率的、高歩留まりの生産をサポートします。
PEEK の主要な利点は、半導体製造の極端な要求に完全に適合しています。つまり、250°C の温度に長期間耐え、短期間であれば 300°C を超える熱衝撃にも耐えることができます。強酸、強アルカリ、フッ化水素酸、過酸化水素、プラズマなどの腐食性の高い環境においても化学的に不活性であり、金属イオンの膨張や浸出が事実上ありません。超低ガス放出、低粒子放出、および高い清浄度はクラス 10 クリーンルーム基準を満たしており、ウェーハの汚染を排除します。高強度、高弾性率、耐摩耗性、自己潤滑性、低熱膨張率を兼ね備え、長期使用でも変形がなく安定した寸法精度を実現します。柔軟な絶縁と帯電防止加工、優れた誘電特性、電気的安全性と帯電防止保護のバランスをとり、汚染、腐食、変形、耐用年数の短さなど、従来の材料の問題点に根本的に対処します。
ウェーハ製造の中核段階では、高い歩留まりを確保するために PEEK が不可欠です。 CMP (化学機械研磨) は、ウェーハ平坦化の中核プロセスです。 PEEK 製のリテンション リングとクランプ リングは、従来の PPS 素材と比較して 2 倍の耐摩耗性と 50% 以上延長された耐用年数を実現します。高速研磨時にも微粒子の発生やウェーハ表面の傷が発生せず、研磨圧力や平坦度を精密に制御できます。これにより、部品交換に伴うダウンタイムが大幅に短縮され、生産能力と歩留まりが向上します。ウェーハのハンドリングと保管において、PEEK 製のフロントオープン ウェーハ キャリア (FOUP)、ウェーハ バスケット、およびロボット エンド エフェクターは、帯電防止特性、低摩擦、軽量構造を備えています。これらは、洗浄、エッチング、蒸着などの複数のプロセスの高温や腐食条件に耐えると同時に、静電気によるウェーハへの損傷を防ぎ、粒子やイオンによる汚染を排除し、自動化された生産ラインを通る安全かつ正確なウェーハの流れを保証します。ウェット クリーニングおよびエッチング装置では、PEEK スプレー アーム、ノズル、シール、ポンプ、バルブ、チャンバー ライニングはフッ化水素酸や硫酸などの腐食性の高い媒体に耐えます。不純物の浸出や汚染の原因となることはなく、シーリングと動作の精度を維持してプロセスの一貫性を確保します。リソグラフィープロセスでは、PEEK が EUV マスクボックスとマスクホルダーに使用されます。超低アウトガス性、防曇性、帯電防止性を備え、高精度マスクを汚染や結像欠陥から保護し、高度なリソグラフィープロセスの安定稼働をサポートします。
PEEK は、パッケージングとテストの段階でも同様に不可欠です。高度なパッケージング (2.5D/3D、チップレット) では、PEEK は絶縁サポート、シーラント、リード フレーム キャリアとして使用されます。低熱膨張、高絶縁、低誘電損失により、高周波・高速信号伝送に適しており、パッケージ構造の安定性を確保し、ショートや信号干渉を防止します。チップのテスト段階では、PEEK 製のテスト ソケット、プローブ カード ベース、チャック、および真空ペンが高い寸法精度、耐摩耗性、帯電防止特性を備えています。挿入、取り外し、接触テストを繰り返しても磨耗や変形がなく、プローブとチップピン間の正確な位置合わせと安定した信号伝送を保証します。これによりテストの効率と信頼性が向上し、高周波、高密度を伴う高度なチップテストの要求に応えます。さらに、PEEK は半導体装置の絶縁コンポーネント、断熱層、真空システム部品にも使用されています。高温、真空、放射線環境下でも長期間安定しており、機器のライフサイクル全体にわたって信頼性の高い動作をサポートします。
ウェーハ製造からパッケージング、テストまで、PEEK は「高温耐性、耐食性、高純度、高精度、長寿命」という総合的な利点により、金属、セラミックス、通常のプラスチックに代わるものです。半導体製造における主要な材料の課題を解決し、チッププロセスのアップグレード、歩留まりの向上、コストの最適化を促進します。半導体産業がより高度なプロセス、より高い集積度、より要求の厳しい環境に向けて進化するにつれて、変性PEEK(導電性、帯電防止性、高耐摩耗性、低誘電性)の適用範囲は拡大し続け、エレクトロニクスおよび半導体産業の高品質な発展のための強固な材料基盤を提供しています。


ESD 定格 PEEK (ESD PEEK) の表面抵抗値が重要なのはなぜですか?
パッケージングおよびテスト、プローブテスト、高精度電子テスト業界では、以下に注目する顧客が増えています。
表面抵抗率
特に、ESD 耐性 PEEK (ESD PEEK) 材料を含むアプリケーションでは、表面抵抗率の安定性が以下に直接影響を与えることがよくあります。
• テストの安定性
• テストの安定性
• 製品収率
• 静電気による損傷の危険性
• 長期的な信頼性
その結果、表面抵抗率はハイエンドのテスト治具業界における重要な基準指標の 1 つになりました。
I. 表面抵抗率とは何ですか?
表面抵抗率とは次のことを指します。
材料の表面が静電気を伝導する能力。
簡単に言うと:
抵抗率が高すぎると、
静電気が溜まりやすいので、
↓
ESDのリスクが高まります。
抵抗率が低すぎると、
断熱性能に影響を与える可能性がありますので、
↓
テストの安定性に影響を与えます。
したがって、安定した適切な表面抵抗率を維持することが重要です。
II. ESD PEEK を選択する顧客が増えているのはなぜですか?
標準的なエンジニアリングプラスチックとの比較:
静電気散逸型 PEEK (ESD PEEK) は通常、次の場合により安定した静電気制御を提供します。
■ 高温環境
■ 長期稼働
■精密な試験環境
包装、検査、精密検査業界でますます広く使用されています。
Ⅲ.包装および検査業界はなぜこの指標をこれほど重視するのでしょうか?
IC のパッケージングとテスト、プローブ テストなどの高精度テスト シナリオでは、次のことが可能です。
非常に軽微な静電気干渉であっても、次のような原因となる可能性があります。
〇検査異常
〇信号の誤解
〇商品の破損
〇利回りの変動
特に高温環境では:
材料の表面抵抗が不安定な場合、長期信頼性に影響を与える可能性が高くなります。
したがって:
現在、次のことを求める顧客が増えています。
安定したESD特性を持つ材料
IV.高精度試験における ESD PEEK の応用
• IC パッケージングおよびテスト治具
• プローブテストコンポーネント
• 高温コネクタ部品
• 絶縁コンポーネントの精密検査
・自動化機器用耐熱部品

包装および試験業界が帯電防止 PEEK 材料 (ESD PEEK) をますます重視しているのはなぜですか?
パッケージングおよびテスト (PAT)、プローブ テスト、コネクタ テスト、および高精度治具業界の発展に伴い、ますます多くのお客様が以下のことに注目し始めています。
帯電防止エンジニアリングプラスチック(ESDプラスチック)
特に高温、高精度、高安定性の試験環境では、材料固有の静電気安定性が以下に直接影響を与えることがよくあります。
①。テスト歩留まり
②。信号の安定性
③。製品の一貫性
④。長期の耐用年数
したがって、標準の PEEK 材料と比較して、以下を採用するハイエンドのテスト治具が増えています。
帯電防止PEEK (ESD PEEK)
中でもSCMシリーズは包装、検査、精密検査業界でも広く使用されています。
I. 包装および検査業界が静電気放電 (ESD) 問題をより重視しているのはなぜですか?
IC のパッケージングとテスト、プローブ テスト、およびコネクタ テストでは、非常に軽微な静電気の影響によっても次のような問題が発生する可能性があります。
· 誤った判断をテストする
・信号干渉
・製品の破損
・収量の変動
特に高精度のテストシナリオでは次のようになります。
多くの課題は「目に見えない」ものであり、長期的な蓄積の後に初めて徐々に顕在化します。
その結果、ますます多くの顧客が以下を優先し始めています。
素材固有の静電気安定性
II.標準PEEKと帯電防止PEEKの違いは何ですか?
標準 PEEK は本質的に以下を備えています。
○機械的強度が良好
〇耐高温性
〇優れた耐摩耗性
○加工安定性が良い
そのため、自動化機器や機械構造部品などの分野で幅広く使用されています。
ただし、次のようなアプリケーションでは、
・高精度検査
· 半導体のパッケージングとテスト
· プローブテスト
・高温断熱構造部品
および同様のシナリオでは、標準の PEEK は静電気が蓄積しやすいです。
その結果、以下を選択する顧客が増えています。
帯電防止PEEK (ESD PEEK)
August 27, 2026
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November 19, 2024
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